CSM 超細(xì)顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器，用于測量超細(xì)顆粒的粒度分布。本儀器由主機(jī)，計算機(jī)和打印機(jī)，儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡單，測量時間短，操作軟件良好的人機(jī)對話界面等優(yōu)點(diǎn)。可廣泛用于電子，光學(xué)，化工，醫(yī)藥等行業(yè)測量超細(xì)固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測顆粒的粒度分布和累積分布的測量結(jié)果，以及D32， Dv50 等多種平均粒徑和比表面積。 主機(jī)內(nèi)包括光源，光學(xué)系統(tǒng)，測量樣品池，光電信號轉(zhuǎn)換及放大系統(tǒng)，A/D 數(shù)據(jù)采集卡等。主機(jī)輸出信號通過USB 電纜與計算機(jī)的USB口相連接，計算機(jī)對主機(jī)測量進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理，并打印輸出結(jié)果。   技術(shù)特點(diǎn) 1.大功率白色光源 2.美國海洋光學(xué)光譜接收器 3.集多年研究之成果，優(yōu)良消光理論的應(yīng)用 4.優(yōu)良反演算法，保證顆粒測量的準(zhǔn)確 5.USB 接口，儀器與計算機(jī)分離，可配任意具有USB 接口之計算機(jī)；臺式、筆記本、移動PC 均可； 6.微量固定樣品池，超高感應(yīng)靈敏度，僅需少量樣品 7.軟件個性化，提供測量向?qū)У缺姸喙δ�，方便用戶操作�?SPAN lang=EN-US> 8.測量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進(jìn)行調(diào)用分析，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享； 9.儀器造型美觀，體積小重量輕； 10.測量精度高，重復(fù)性好，測量時間短； 11.軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求； 12.考慮到測試結(jié)果的保密要求，只有授權(quán)操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理；   技術(shù)參數(shù) 光源功率：20 瓦12 伏鹵素?zé)簦?SPAN lang=EN-US> 粒徑測量范圍：0.05μm－10.0μm 重復(fù)測量誤差：< 2％； 測量誤差： <3％ (用國家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗)； 數(shù)據(jù)輸出：體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計平均直徑；操作者姓名、單位、樣品名；選用折射率，測量時間等相關(guān)信息。 通訊接口：USB 接口。 樣品池：固定樣品池 測量分析時間：正常條件下小于 1 分鐘（從開始測量到顯示分析結(jié)果）。 工作環(huán)境溫度：5－30 ℃； 電源：180－240V，50 Hz； 外形尺寸：320X280X120 mm3； 重量：約 3.5 公斤   工作條件 室內(nèi)溫度：15℃-35℃ 相對溫度：不大于85%（無冷凝） 建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無強(qiáng)磁場干擾。 由于在微量級的范圍內(nèi)的測量，儀器應(yīng)放在堅固可靠、無振動的工作臺上，并且在少塵條件下進(jìn)行測量。 儀器不應(yīng)放在太陽直射、風(fēng)大或溫度變化大的場所。 設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。 室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無腐蝕性氣體。   工作原理 消光法(Extinction)是光散射顆粒測量技術(shù)中的一種，又稱濁度法(Turbidimetry)。消光法的基本原理是，當(dāng)光束穿過一含有顆粒的介質(zhì)時，由于受到顆粒的散射和吸收，使得穿過介質(zhì)后的透射光強(qiáng)度受到衰減，其衰減程度與顆粒的大小和數(shù)量(濃度)相關(guān)，這就為顆粒測量提供了一個尺度。與散射光能顆粒測量方法顯著不同的是，消光法測量時所接收的不是顆粒的散射光，而是非散射光(透射光)，所以光強(qiáng)較強(qiáng)。光源大都采用白光而不是單色激光，此外，除顆粒粒徑外，消光法還能同時測得顆粒的濃度，與其它光散射方法相比，這是它的一個突出特點(diǎn)。 消光法的原理簡單，測量方便，對儀器設(shè)備的要求較低，測量范圍相對較寬，下限為數(shù)十個納米，上限約10μm 左右，測量結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好，測量速度快。因此，該方法不僅在膠體化學(xué)，高分子化學(xué) (1) 式中τ 是介質(zhì)的濁度。 圖1 消光法測量原理   設(shè)顆粒群在介質(zhì)中的空間分布是無序而均勻的，即濁度τ 與光程L 無關(guān)，將式(1)沿整個光程積分   (2) 則透射光的強(qiáng)度為 (3) 式(3)即是著名的Beer-Lambert 定理，它描述了光在顆粒介質(zhì)中的衰減規(guī)律。 如果被測量顆粒是球形顆粒，且各個顆粒的光散射滿足不相關(guān)的單散射，則可知，N 個粒徑為D，迎光面積為a 的單分散顆粒系(Monodispersion)由于光的散射和吸收而導(dǎo)致的濁度為     (4) 式中Kext 稱為消光系數(shù)(Extinction Coefficient)，是入射光波長λ、被測顆粒直徑D、顆粒相對于周圍介質(zhì)的相對折射率m(= n ? iη )的函數(shù)，可以由經(jīng)典Mie 光散射理論計算得到。將式(4)代入式(3)后可得 (5) 式中比值I/ Io 稱為消光或消光值。實際情況下，被測量的顆粒大多不是單分散顆粒系， 而是有一定尺寸分布范圍的多分散顆粒系(Polydispersion)，此時，該介質(zhì)的濁度為     (6) 代入式(3)后得   式中a 和b 分別是顆粒尺寸分布的下限和上限，N(D)是以顆粒數(shù)計的尺寸分布函數(shù)或頻度函數(shù)。 由式(5)或式(7)可知，入射光的衰減I /I 0  中包含有顆粒尺寸和濃度(顆粒數(shù))的信息，從而為它們的測量提供了一個尺度。為此，消光法可以歸結(jié)為：測得入射光和透射光的強(qiáng)度Io 和I 或其比值I /I 0，已知入射光波長λ，光程L 和被測顆粒折射率m 后，就可得到顆粒 的尺寸分布函數(shù)N(D)及濃度，此時體積濃度可表示為 (8) 乘以顆粒的密度后即得其重量濃度。     圖2.儀器實樣